ارزیابی مقاومت شکست در ناحیه اتصال چسب‌های یونیورسال و عاج دندان با استفاده از آزمون مقاومت شکست بین‌سطحی مینیاتوری در این مقاله، با تکیه بر روش جدید، ساده‌شده و مینیاتوری‌شده پرتو دارای شیار با شیب یکنواخت (SGNB) که توسط Pongprueksa و همکاران توسعه داده شده است، قالبی برای آماده‌سازی شیار طراحی شد تا روشی عملی‌تر و قابل تکرار برای انجام آزمون فراهم شود، چرا که کنار گذاشتن نمونه‌های نامناسب هم وقت‌گیر است و هم به حجم زیادی از مواد نیاز دارد. هدف از این مطالعه عبارت بود از: 1. ارزیابی اثربخشی اتصال سیستم‌های چسب یونیورسال خود اچ‌کننده (self-etch)، و 2. بررسی اینکه آیا قالب طراحی‌شده می‌تواند فرآیند آماده‌سازی شیار در آزمون مقاومت شکست بین‌سطحی مینیاتوری (mini-iFT) را که در مطالعه قبلی پیشنهاد شده بود، بهبود بخشد. با در نظر گرفتن محدودیت‌های این مطالعه، تفاوت میانگین مقادیر mini-iFT بین چسب‌های یونیورسال (UAs) و گروه چسب‌های خود اچ‌کننده معمولی از نظر آماری معنادار نبود. با این حال، بر اساس داده‌های سانسور شده از سمت چپ (left-censored data) و میزان از دست رفتن نمونه‌ها پیش از فرآیند پیرسازی و در طول آن، چسب SE-bond کیفیت اتصال بهتری نسبت به چسب‌های یونیورسال نشان داد. عملکرد اتصال چسب‌های یونیورسال به ترکیب و جنس ماده بستگی داشت. با وجود اینکه همه چسب‌های یونیورسال استفاده‌شده در این مطالعه بر پایه مونومر چسبنده 10-MDP بودند، تفاوت در کومونومرها یا احتمالاً سایر ترکیبات باعث تفاوت در کیفیت اتصال به عاج شد. مدول پایین Weibull در این مطالعه نشان‌دهنده یکنواخت نبودن شیارها بود، که ممکن است ناشی از روش آماده‌سازی شیار یا ماهیت آزمون mini-iFT باشد. مطالعات بیشتری برای توسعه روشی تکرارپذیر و عملی جهت آماده‌سازی شیارهای یکنواخت مورد نیاز است. در مواردی که استانداردسازی شیار ممکن نباشد، آزمون macro-iFT یا سایر آزمون‌های استحکام پیوند در مقیاس میکرو ممکن است مناسب‌تر باشند.